| 资料名称： | GB/T17723-1999 GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1999-04-01◎ | ||
| 实施日期： | 1999-01-02◎ | ||
| 首发日期： | 1999-04-11◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | 2004-04-16◎ |
| 标准编号： | GB/T 17723-1999 | |
| 标准名称： | 黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法 | |
| 英文名称： | Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法 国家标准(GB) GB/T17723-1999 本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪（包括装有X射线能谱仪的电子探针仪）对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。本标准适用于表面镀金及金合金，其镀层厚度为0.2μm以上，3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家质量技术监督局（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 北京有色金属研究总院（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开， 页数：7， 字数：10千字（仅供参考） | |
| 书 号： | 155066.1-15976（仅供参考） | |
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