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SJ1551-79 SJ 1551-79 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)

标准编号:SJ1551-79 整理时间:1980-03-01 浏览次数:16
资料名称: SJ1551-79 SJ 1551-79 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1980-03-01◎
实施日期: 1980-06-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期:
标准编号: SJ 1551-79
标准名称: 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)
英文名称: Method of measurement for resistivity of silicon epitaxial layer (capacitance-voltage method) (Provisional)(仅供参考)
标准简介: SJ 1551-79 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行) 电子行业标准(SJ) SJ1551-79 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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