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SJ2534.2-1985 SJ 2534.2-1985 天线测试方法 天线测试场的设计

标准编号:SJ2534.2-1985 整理时间:1985-01-05 浏览次数:16
资料名称: SJ2534.2-1985 SJ 2534.2-1985 天线测试方法 天线测试场的设计
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1985-01-05◎
实施日期: 1986-07-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期: 1986-07-01◎
标准编号: SJ 2534.2-1985
标准名称: 天线测试方法 天线测试场的设计
英文名称: Test procedures for antennas-Antenna-range design(仅供参考)
标准简介: SJ 2534.2-1985 天线测试方法 天线测试场的设计 电子行业标准(SJ) SJ2534.2-1985 本标准适用于天线测试场的设计。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: (仅供参考)
采标情况: IEEE NEQ(仅供参考)
发布部门: 中华人民共和国电子工业部(仅供参考)
提出单位: 电子工业部标准化研究所(仅供参考)
归口单位: (仅供参考)
主管部门: (仅供参考)
起草单位: 电子工业部39所(仅供参考)
起 草 人: 柯树人、王书惠(仅供参考)
出 版 社:

(仅供参考)

页  数: 15页(仅供参考)
书  号: (仅供参考)
下载次数: 15次
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