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SJ20147.1-1992 SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 X射线荧光光谱法

标准编号:SJ20147.1-1992 整理时间:1992-11-19 浏览次数:14
资料名称: SJ20147.1-1992 SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 X射线荧光光谱法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1992-11-19◎
实施日期: 1993-05-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期:
标准编号: SJ 20147.1-1992
标准名称: 银和银合金镀覆层厚度测量方法 X射线荧光光谱法
英文名称: Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry(仅供参考)
标准简介: SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 X射线荧光光谱法 电子行业标准(SJ) SJ20147.1-1992 本标准规定了用x射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是’一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量,也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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