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SJ/Z9016-1987 SJ/Z 9016-1987 半导体器件 机械和气候试验方法

标准编号:SJ/Z9016-1987 整理时间:1987-09-14 浏览次数:7
资料名称: SJ/Z9016-1987 SJ/Z 9016-1987 半导体器件 机械和气候试验方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 已作废◎
作废日期:
发布日期: 1987-09-14◎
实施日期: 1987-09-14◎
首发日期:
复审日期:
出版日期:
标准编号: SJ/Z 9016-1987
标准名称: 半导体器件 机械和气候试验方法
英文名称: Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods(仅供参考)
标准简介: SJ/Z 9016-1987 半导体器件 机械和气候试验方法 电子行业标准(SJ) SJ/Z9016-1987 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: 参见GB/T 4937-1985(仅供参考)
采标情况: idt IEC 749-84(仅供参考)
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页  数: 22页(仅供参考)
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