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SJ2355.2-1983 SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法

标准编号:SJ2355.2-1983 整理时间:1983-11-25 浏览次数:6
资料名称: SJ2355.2-1983 SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1983-11-25◎
实施日期: 1984-05-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期:
标准编号: SJ 2355.2-1983
标准名称: 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
英文名称: Method of measurement for forward voltage drop of light-emitting devices(仅供参考)
标准简介: SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2355.2-1983 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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