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GB/T11685-1989 GB/T 11685-1989 半导体X射线能谱仪的测试方法

标准编号:GB/T11685-1989 整理时间:1989-10-14 浏览次数:4
资料名称: GB/T11685-1989 GB/T 11685-1989 半导体X射线能谱仪的测试方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 已作废◎
作废日期: 2004-01-01◎
发布日期: 1989-10-14◎
实施日期: 1990-05-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期:
标准编号: GB/T 11685-1989
标准名称: 半导体X射线能谱仪的测试方法
英文名称: Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers(仅供参考)
标准简介: GB/T 11685-1989 半导体X射线能谱仪的测试方法 国家标准(GB) GB/T11685-1989 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: 被GB/T 11685-2003代替(仅供参考)
采标情况: IEC 759-1983 NEQ(仅供参考)
发布部门: (仅供参考)
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页  数: 16页(仅供参考)
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