当前位置:我要找标准信息网首页 > 电子行业标准(SJ) 下载内容

SJ/T10800-1996 SJ/T 10800-1996 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理

标准编号:SJ/T10800-1996 整理时间:1996-11-20 浏览次数:12
资料名称: SJ/T10800-1996 SJ/T 10800-1996 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1996-11-20◎
实施日期: 1997-01-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期:
标准编号: SJ/T 10800-1996
标准名称: 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理
英文名称: Semiconductor integrated circuits used as interface circuits-General principles of measuring methods for sense amplifiers(仅供参考)
标准简介: SJ/T 10800-1996 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理 电子行业标准(SJ) SJ/T10800-1996 压缩包解压密码:www.51zbz.com
推荐链接: 载入中
替代情况: 原标准号GB 6793-86(仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: (仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: (仅供参考)
主管部门: (仅供参考)
起草单位: (仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

(仅供参考)

页  数: 15页(仅供参考)
书  号: (仅供参考)
下载次数: 2次
下载地址: 点此打开推荐最佳下载地址
上一篇:SJ/T 10784-1996 电子器件详细规范 半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路(可供认证用) 下一篇:SJ/T 10801-1996 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 相关链接:

互联网 本站内
RSS订阅 - 设为首页 - 收藏本站 - - 返回顶部
如有意见和建议,请E-mail至admin@51zbz.cn ©2008 我要找标准信息网 www.51zbz.cn