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GB4298-1984 GB 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

标准编号:GB4298-1984 整理时间:1984-03-28 浏览次数:22
资料名称: GB4298-1984 GB 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1984-03-28◎
实施日期: 1985-03-01◎
首发日期: 1984-03-28◎
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期: 1985-03-01◎
标准编号: GB 4298-1984
标准名称: 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法
英文名称: The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials(仅供参考)
标准简介: GB 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 国家标准(GB) GB4298-1984 本标准适用于单晶硅、多晶硅中金属杂质素和非金属杂质素含量的测定。本标准包括杂质素(十六个)的反应堆中子活化仪器分析方法、铜和砷的反应堆中子活化放射化分离分析方法、磷的反应堆中子活化放射化分离分析方法、氧的α粒子活化仪器分析方法和碳的氘子活化仪器分析方法。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: (仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: 国家标准局(仅供参考)
提出单位: 有色金属总公司(仅供参考)
归口单位: 中国有色金属工业协会(仅供参考)
主管部门: 中国有色金属工业协会(仅供参考)
起草单位: 有色金属研究总院(仅供参考)
起 草 人: 周云鹿、章家鼎(仅供参考)
出 版 社:

中国标准出版社(仅供参考)

页  数: 18页(仅供参考)
书  号: (仅供参考)
下载次数: 3次
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