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GB/T17473.1-1998 GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

标准编号:GB/T17473.1-1998 整理时间:1998-08-19 浏览次数:74
资料名称: GB/T17473.1-1998 GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 已作废◎
作废日期: 2008-09-01◎
发布日期: 1998-08-19◎
实施日期: 1999-03-01◎
首发日期: 1998-08-19◎
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期: 2004-04-15◎
标准编号: GB/T 17473.1-1998
标准名称: 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
英文名称: Test methods of  precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content(仅供参考)
标准简介: GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 国家标准(GB) GB/T17473.1-1998 本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: 被GB/T 17473.1-2008代替(仅供参考)
采标情况: ≈ASTM F66-84 ≈ASTM D2369-95 ≈ASTM D4713-92(仅供参考)
发布部门: 国家质量技术监督局(仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: 全国有色金属标准化技术委员会(仅供参考)
主管部门: 中国有色金属工业协会(仅供参考)
起草单位: 昆明贵金属研究所(仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

中国标准出版社(仅供参考)

页  数: 平装16开, 页数:5, 字数:5千字(仅供参考)
书  号: 155066.1-15489(仅供参考)
下载次数: 3次
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