当前位置:我要找标准信息网首页 > 国家标准(GB) 下载内容

GB/T4326-1984 GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

标准编号:GB/T4326-1984 整理时间:1984-04-12 浏览次数:6
资料名称: GB/T4326-1984 GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 已作废◎
作废日期: 2006-11-01◎
发布日期: 1984-04-12◎
实施日期: 1985-03-01◎
首发日期:
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期:
标准编号: GB/T 4326-1984
标准名称: 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文名称: Extrinsic semiconductor single crystals; Measurement of Hall mobility and Hall coefficient(仅供参考)



标准简介: GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 国家标准(GB) GB/T4326-1984 本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流子霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阻率和霍尔系数,因此本标准也分别适用于这些参数的测量。本方法仅在有限的范围内和对锗、硅和砷化镓进行了实验室测量,但该方法也可适用于其他半导体单晶材料。所述的测量技术至少适用于室温电阻率高达104Ωcm的试样。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
推荐链接: 载入中
替代情况: 被GB/T 4326-2006代替(仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: 国家标准局(仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: 中国有色金属工业协会(仅供参考)
主管部门: 中国有色金属工业协会(仅供参考)
起草单位: 有色金属研究总院(仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

(仅供参考)

页  数: 11页(仅供参考)
书  号: (仅供参考)
下载次数: 0次
下载地址: 点此打开推荐最佳下载地址
上一篇:GB/T 4297-1984 镁合金加工制品低倍组织检验方法 下一篇:GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 相关链接:

互联网 www.51zbz.cn
RSS订阅 - 设为首页 - 收藏本站 - - 返回顶部
如有意见和建议,请E-mail至admin@51zbz.cn ©2008 我要找标准信息网 www.51zbz.cn 闽ICP备16002068号-1