当前位置:我要找标准信息网首页 > 国家标准(GB) 下载内容

GB1772-1979 GB 1772-1979 电子元器件失效率试验方法

标准编号:GB1772-1979 整理时间:1979-09-25 浏览次数:130
资料名称: GB1772-1979 GB 1772-1979 电子元器件失效率试验方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 已作废◎
作废日期: 2005-10-14◎
发布日期: 1979-09-25◎
实施日期: 1980-03-01◎
首发日期:
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期:
标准编号: GB 1772-1979
标准名称: 电子元器件失效率试验方法
英文名称: Determination of failure rate of electronic elements and components(仅供参考)



标准简介: GB 1772-1979 电子元器件失效率试验方法 国家标准(GB) GB1772-1979 本标准规定了有可靠性指标的电子器件产品(以下简称产品)的定级、维持和升级试验程序。本标准适用于其寿命能合理地认为是服从指数分布,在本质上是同一设计、建立了可靠性质量管理和连续生产的产品。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
推荐链接: 载入中
替代情况: (仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: 信息产业部(电子)(仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: 信息产业部(电子)(仅供参考)
主管部门: 信息产业部(电子)(仅供参考)
起草单位: 电子部四所(仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

(仅供参考)

页  数: 0(仅供参考)
书  号: (仅供参考)
下载次数: 26次
下载地址: 点此打开推荐最佳下载地址
上一篇:GB 1360-1978 印制电路网路 下一篇:GB 2036-1980 印制电路名词术语和定义 相关链接:
    无相关信息

互联网 www.51zbz.cn
RSS订阅 - 设为首页 - 收藏本站 - - 返回顶部
如有意见和建议,请E-mail至admin@51zbz.cn ©2008 我要找标准信息网 www.51zbz.cn 闽ICP备16002068号-1