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SJ/T11212-1999 SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

标准编号:SJ/T11212-1999 整理时间:1999-08-26 浏览次数:19
资料名称: SJ/T11212-1999 SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1999-08-26◎
实施日期: 1999-12-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期: 1999-12-01◎
标准编号: SJ/T 11212-1999
标准名称: 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
英文名称: Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)(仅供参考)



标准简介: SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 电子行业标准(SJ) SJ/T11212-1999 本规范适用于石英晶体件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A,以SJ/Z9154.1-87的π型网络为基础,适宜 和于该标覆盖的整个频率范围。方法B,是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: (仅供参考)
采标情况: IEC 444-6-1995 IDT(仅供参考)
发布部门: 中华人民共和国信息产业部(仅供参考)
提出单位: 电子工业部标准化研究所(仅供参考)
归口单位: 电子工业部标准化研究所(仅供参考)
主管部门: (仅供参考)
起草单位: 电子工业部标准化研究所(仅供参考)
起 草 人: 章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林(仅供参考)
出 版 社:

(仅供参考)

页  数: 16页(仅供参考)
书  号: (仅供参考)
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