| 资料名称： | SJ/T11212-1999 SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1999-08-26◎ | ||
| 实施日期： | 1999-12-01◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | 1999-12-01◎ |
| 标准编号： | SJ/T 11212-1999 | |
| 标准名称： | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 | |
| 英文名称： | Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)（仅供参考） | |
| 标准简介： | SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 电子行业标准(SJ) SJ/T11212-1999 本规范适用于石英晶体件激励电平相关性（DLD）的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z9154.1-87的π型网络为基础，适宜 和于该标覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | IEC 444-6-1995 IDT（仅供参考） | |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部（仅供参考） | |
| 提出单位： | 电子工业部标准化研究所（仅供参考） | |
| 归口单位： | 电子工业部标准化研究所（仅供参考） | |
| 主管部门： | （仅供参考） | |
| 起草单位： | 电子工业部标准化研究所（仅供参考） | |
| 起 草 人： | 章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林（仅供参考） | |
| 出 版 社： | （仅供参考） |
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| 页 数： | 16页（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
| 下载次数： | 5次 | |
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