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GB/T15651.3-2003 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

标准编号:GB/T15651.3-2003 整理时间:2003-01-01 浏览次数:27
资料名称: GB/T15651.3-2003 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
标准类别:
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标准状态:
作废日期:
发布日期: 2003-01-01◎
实施日期: 2004-08-01◎
首发日期: 2003-11-24◎
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期: 2004-08-01◎
标准编号: GB/T 15651.3-2003
标准名称: 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
英文名称: (仅供参考)



标准简介: GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 国家标准(GB) GB/T15651.3-2003 本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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采标情况: IEC 60747-5-3:1997,IDT(仅供参考)
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书  号: 155066.1-20664(仅供参考)
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