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GB/T17444-1998 GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

标准编号:GB/T17444-1998 整理时间:1998-07-03 浏览次数:38
资料名称: GB/T17444-1998 GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1998-07-03◎
实施日期: 1999-05-01◎
首发日期: 1998-07-30◎
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期: 2004-04-15◎
标准编号: GB/T 17444-1998
标准名称: 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
英文名称: The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays(仅供参考)



标准简介: GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 国家标准(GB) GB/T17444-1998 本标准所指的焦平面,是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: (仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: 国家质量技术监督局(仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: 信息产业部(电子)(仅供参考)
主管部门: 信息产业部(电子)(仅供参考)
起草单位: 中国科学院上海技术物理研究所(仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

中国标准出版社(仅供参考)

页  数: 18页(仅供参考)
书  号: 155066.1-15431(仅供参考)
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