当前位置:我要找标准信息网首页 > 国家标准(GB) 下载内容

GB/T15136-1994 GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理

标准编号:GB/T15136-1994 整理时间:1994-06-16 浏览次数:32
资料名称: GB/T15136-1994 GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 已作废◎
作废日期:
发布日期: 1994-06-16◎
实施日期: 1995-02-01◎
首发日期: 1994-06-16◎
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期:
标准编号: GB/T 15136-1994
标准名称: 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
英文名称: General principles of measuring methods for quartz clock and watch circuits of semiconductor integrated circuits(仅供参考)
标准简介: GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理 国家标准(GB) GB/T15136-1994 本标准规定了半导体集成电路石英钟表电路电参数测试方法的基本原理。本标准适用于指针式和数字式普通计时功能的石英钟表用半导体集成电路的电参数测试。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
推荐链接: 载入中
替代情况: 作废;(仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: 国家技术监督局(仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: 全国半导体器件标准化技术委员会(仅供参考)
主管部门: 信息产业部(电子)(仅供参考)
起草单位: 上海无线电十九厂(仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

中国标准出版社(仅供参考)

页  数: 平装16开, 页数:20, 字数:44千字(仅供参考)
书  号: (仅供参考)
下载次数: 5次
下载地址: 点此打开推荐最佳下载地址
上一篇:GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 下一篇:GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸 相关链接:
    无相关信息

互联网 本站内
RSS订阅 - 设为首页 - 收藏本站 - - 返回顶部
如有意见和建议,请E-mail至admin@51zbz.cn ©2008 我要找标准信息网 www.51zbz.cn