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GB/T16526-1996 GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

标准编号:GB/T16526-1996 整理时间:1996-09-09 浏览次数:17
资料名称: GB/T16526-1996 GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1996-09-09◎
实施日期: 1997-05-01◎
首发日期: 1996-09-09◎
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期: 2004-04-10◎
标准编号: GB/T 16526-1996
标准名称: 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
英文名称: The method  measuring the lead-to-lead and loading capacitance of package leads(仅供参考)
标准简介: GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法 国家标准(GB) GB/T16526-1996 本标准规定了半导体集成电路封装引线间电容和引线负载电容的测试方法。本标准适用于半导体集成电路陶瓷、金属、塑料封装引线间电容和引线负载电容测量。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: (仅供参考)
采标情况: =SEMI G24-89(仅供参考)
发布部门: 国家技术监督局(仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: 全国半导体器件标准化技术委员会(仅供参考)
主管部门: 信息产业部(电子)(仅供参考)
起草单位: 上海无线电七厂(仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

中国标准出版社(仅供参考)

页  数: 平装16开, 页数:5, 字数:5千字(仅供参考)
书  号: 155066.1-13683(仅供参考)
下载次数: 2次
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