| 标准简介： |
GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路） 国家标准(GB) GB/T19403.1-2003 本部分为GB/T19403的一部分，等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1：1992《半导体器件集成电路第11部分：第1节：半导体集成电路内部目检》。 压缩包解压密码：www.51zbz.com |
| 推荐链接： |
载入中 |
| 替代情况： |
（仅供参考） |
| 采标情况： |
IEC 60748-11-1:1992,IDT（仅供参考） |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局（仅供参考） |
| 提出单位： |
中华人民共和国信息产业部（仅供参考） |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会（仅供参考） |
| 主管部门： |
信息产业部（电子）（仅供参考） |
| 起草单位： |
信息产业部第四研究所（仅供参考） |
| 起 草 人： |
魏华、王静（仅供参考） |
| 出 版 社： |
中国标准出版社（仅供参考） |
| 页 数： |
16开， 页数：22， 字数：45千字（仅供参考） |
| 书 号： |
155066.1-20646（仅供参考） |
| 下载次数： |
3次 |
| 下载地址： |
点此打开推荐最佳下载地址 |