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SJ2319-1983 SJ 2319-1983 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法

标准编号:SJ2319-1983 整理时间:2008-09-10 浏览次数:29
资料名称: SJ2319-1983 SJ 2319-1983 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
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标准状态: 已作废◎
作废日期:
发布日期:
实施日期: 1988-06-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期:
标准编号: SJ 2319-1983
标准名称: 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
英文名称: Method of analysis by emission spectrum of impurities in Aluminium trioxide for use in electronic ceramics(仅供参考)
标准简介: SJ 2319-1983 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 电子行业标准(SJ) SJ2319-1983 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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