当前位置:我要找标准信息网首页 > 电子行业标准(SJ) 下载内容

SJ2319-1983 SJ 2319-1983 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法

标准编号:SJ2319-1983 整理时间:2008-09-10 浏览次数:27
资料名称: SJ2319-1983 SJ 2319-1983 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 已作废◎
作废日期:
发布日期:
实施日期: 1988-06-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期:
标准编号: SJ 2319-1983
标准名称: 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
英文名称: Method of analysis by emission spectrum of impurities in Aluminium trioxide for use in electronic ceramics(仅供参考)



标准简介: SJ 2319-1983 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 电子行业标准(SJ) SJ2319-1983 压缩包解压密码:www.51zbz.com
推荐链接: 载入中
替代情况: 被SJ/T 10551-1994代替(仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: (仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: (仅供参考)
主管部门: (仅供参考)
起草单位: (仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

(仅供参考)

页  数: 3页(仅供参考)
书  号: (仅供参考)
下载次数: 1次
下载地址: 点此打开推荐最佳下载地址
上一篇:SJ 2252-1982 阴极碳酸盐 下一篇:SJ 2320-1983 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 相关链接:

互联网 www.51zbz.cn
RSS订阅 - 设为首页 - 收藏本站 - - 返回顶部
如有意见和建议,请E-mail至admin@51zbz.cn ©2008 我要找标准信息网 www.51zbz.cn 闽ICP备16002068号-1