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YD/T835-1996 YD/T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法

标准编号:YD/T835-1996 整理时间:1996-04-08 浏览次数:31
资料名称: YD/T835-1996 YD/T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1996-04-08◎
实施日期: 1996-09-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期: 2004-04-18◎
标准编号: YD/T 835-1996
标准名称: 雪崩光电二极管检测方法
英文名称: (仅供参考)
标准简介: YD/T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法 通信行业标准(YD) YD/T835-1996 范围:本标准规定了带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管光电参数的检测项目及检测方法。本标准适用于带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管的光电参数检测。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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起草单位: 邮电部武汉邮电科学研究院电信器件公司(仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

中国标准出版社(仅供参考)

页  数: 17页(仅供参考)
书  号: 155066.2-10919(仅供参考)
下载次数: 3次
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