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GB/T16864-1997 GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法

标准编号:GB/T16864-1997 整理时间:1997-06-16 浏览次数:8
资料名称: GB/T16864-1997 GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态:
作废日期:
发布日期: 1997-06-16◎
实施日期: 1997-12-01◎
首发日期: 1997-06-16◎
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期: 1997-12-01◎
标准编号: GB/T 16864-1997
标准名称: 低温下晶体透射率的试验方法
英文名称: Method for testing cryogenic transmissivity of crystals(仅供参考)



标准简介: GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法 国家标准(GB) GB/T16864-1997 本标准规定了低温下(300K~20K),波长在紫外-近红外的晶体透射率的试验方法。本标准适用于晶体透射率的测试。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: (仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: 国家技术监督局(仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: 中国科学院(仅供参考)
主管部门: 中国科学院(仅供参考)
起草单位: 中国科学院物理研究所(仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

中国标准出版社(仅供参考)

页  数: 平装16开, 页数:5, 字数:5千字(仅供参考)
书  号: 155066.1-14259(仅供参考)
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