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YS/T27-1992 YS/T 27-1992 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法

标准编号:YS/T27-1992 整理时间:1992-03-09 浏览次数:17
资料名称: YS/T27-1992 YS/T 27-1992 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 已废止◎
作废日期: 2005-07-26◎
发布日期: 1992-03-09◎
实施日期: 1993-01-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期:
标准编号: YS/T 27-1992
标准名称: 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法
英文名称: (仅供参考)
标准简介: YS/T 27-1992 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法 有色金属行业标准(YS) YS/T27-1992 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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采标情况: 等效ASTM F 24-1965(仅供参考)
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归口单位: (仅供参考)
主管部门: (仅供参考)
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页  数: 3页(仅供参考)
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